Infraestructura

  • Microscopio Electrónico de Barrido (JEOL JSM6360LV), equipado con detectores de electrones secundarios y retrodispersos, para la observación de estructuras superficiales o topográficas de la muestra.
  • Desecador de Punto Crítico (Samdri-795, Tousimis). Se utiliza para secar muestras a la presión y temperatura crítica del dióxido de carbono, evitando que las muestras se colapsen o deformen por el proceso de secado.
    La muestra requiere de una preparación previa con agentes deshidratantes.
  • Ionizadora (Jeol JFC-1100). Los especímenes montados, generalmente se cubren con una película delgada de un material metálico que vuelve conductora a la muestra.

Objetivos de Calidad del ICML

“Campus Ciudad Universitaria”

  • *   Obtener un 80% de la satisfacción del cliente considerando: calidad de los resultados, tiempos de entrega y requisitos de los clientes. 
  • *   Se realizará una auditoria interna al año, del sistema de gestión de calidad para asegurar la eficacia del mismo.
  • *   La dirección generara compromisos a partir de auditorías internas de seguimiento y revisión del SGC.

Política de Calidad del SAMEB

El Servicio Académico de Microscopía Electrónica de Barrido (SAMEB) se compromete a promover la calidad en la toma de imágenes con el Microscopio Electrónico de Barrido con base en lo indicado en la Norma Internacional ISO 9001:2015 - Sistemas de Gestión de Calidad – Requisitos.

Precios de Servicio de Microscopía Electrónica de Barrido

El apoyo proporcionado por el SAMEB consiste en la elección de la metodología idónea y asesoría en la preparación y procesamiento de la muestra de acuerdo al objetivo del estudio y finalmente la obtención de micrografías digitales.

El servicio se proporciona a investigadores de este Instituto, de otras dependencias de la UNAM e instituciones de educación superior. Las sesiones de microscopía electrónica de barrido tienen una duración de tres horas, las cuales se programan después de la entrega del material a observar y de llenar la solicitud de servicio.  El costo por el uso del SAMEB esta en función del tipo de objetos a estudiar, tiempo de uso y consumo de materiales para obtener resultados satisfactorios.

Costo por una sesión de MEB 3 horas

TIPO DE USUARIO COSTO
Dependencias UNAM $ 695.00
*Otras Instituciones Académicas $ 880.00
*Instituciones No Académicas y Empresas $ 1,260.00

*Costos M.N. no incluyen IVA (16%).

De 1 a 8 muestras. El número de muestras que se analicen en la sesión depende del detalle con el que se observe cada muestra.

Instructivo de preparación de muestras

La entrega de resultados (imágenes digitales) se entregan en la última sesión de observación programada, en un disco nuevo (CD) que el usuario proporciona.

Contacto

Para solicitar el servicio de microscopía electrónica de barrido dirigirse a:
M. en C. Laura Elena Gómez Lizárraga

lauragomliz@cmarl.unam.mx
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56-23-02-22 ext. 25798

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